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OPTIDEW-401-冷镜式光学原理露点仪工业过程仪表

供应数量:12

发布日期:2022/5/24

有效日期:2022/8/24

原 产 地:英国

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OPTIDEW-401冷镜式光学原理露点仪工业过程仪表性能

露点测量精度 ±0.15°C

重复性 ±0.05°C

灵敏度 ±0.01°C

响应时间 1分钟 +10°C dp 稳定测量

露点传感器

传感器 单 Stage 双 Stage 严苛环境

露点范围(°C) -25 ~ +90°C -40 ~ +90°C -40 ~ 120°C

温度范围 (°C) -40 ~ +90°C -40 ~ +90°C -40 ~ +120°C

%RH 范围 @ 23°C 2.25 ~ 100% RH 0.45 ~ 100% RH 0.45 ~ 100% RH

电缆长度 0.3,3,5,10 和 20m

操作温度 标准:-25°C,高温型:-40°C

最高操作温度 标准:最高90°C,高温型:最高120°C

远程压力传感器 (可选)

压力测量精度 ±0.25% FS

压力测量范围 0-160 kPa 或 0-2500 kPa

过程连接 1/8" NPT-M

控制单元

分辨率 1 或 2 位小数可选

测量单位 °Cdp 或 °Fdp,相对湿度 - %,绝对湿度 - g/m3, ppmV,混合比 - g/kg,湿球温度 (Twb) - °C,°F,水蒸气压力 (wvp) - Pa,环境温度 - °C,°F,压力转换 DP - °C,°F, 压力 - kPa,Bara,Barg,Psia,Psig

外壳 壁挂式 - Optidew 501 台式 - Optidew 401

模拟输出 两路 0/4-20mA 输出 (最大负载 500Ω) 两路 0/4-20mA 输出 (最大负载 500Ω)

数字通信 Modbus RTU 通过 RS485 (标准)

输入 压力传感器输入 4-20mA 压力传感器输入 4-20mA

数据记录 SD 卡槽 (可选) SD 卡槽 (标准)

防护等级 IP54 (标准),IP65 (可选) IP54



OPTIDEW-401冷镜式光学原理露点仪工业过程仪表

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